3 июня 2013 г. с 14-00 по 18-00
в рамках XYIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-2013)
состоятся четыре научно-образовательных лекции по методам электронной и зондовой микроскопии для молодых ученых
1. НОВЫЕ МЕТОДЫ В ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИРОСКОПИИ
Васильев Александр Леонидович, к.ф.-м.н. зав.лаб.электронной микроскопии НИЦ"Курчатовский институт", г.Москва
2. МЕТОДЫ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ И ИХ ПРИМЕНЕНИЕ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ НАНОМАСШТАБНЫХ СВОЙСТВ ПОВЕРХНОСТИ И ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ СТРУКТУР
Миронов Виктор Леонидович, д.ф.-м.н. Институт физики микроструктур РАН, г.Нижний Новгород
3. МЕТОДЫ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ И ИХ ПРИМЕНЕНИЕ
Якимов Евгений Борисович, д.ф.-м.н. Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, г.Черноголовка
4. 3D MORPHOLOGICAL AND ELEMENTAL ANALYSIS OF INTERCONNECT MATERIALS USING A DUALBEAM
Van Leer B. FEI Company, USA
Адрес: г.Черноголовка, Большая гостиная Дома ученых (рядом с гостиницей РАН), проезд: от автостанции (метро "Щелковская") автобусами 360, 320 и маршрутными такси 320. Время в пути приблизительно 1 час 20 мин, стоимость проезда 93 руб. Вход свободный.