ИНТЕГРА Марлин: применения сканирующей ионно-проводящей микроскопии в комбинации с АСМ и оптическими методиками
Уважаемые коллеги, мы рады пригласить Вас на наш первый в этом году вебинар: «ИНТЕГРА Марлин: применения сканирующей ионно-проводящей микроскопии в комбинации с АСМ и оптическими методиками».
Представленная Полом Хансма 30 лет назад сканирующая ионно-проводящая микроскопия (СМИП), развивалась все это время различными научными группами и компаниями. Однако, в силу ряда особенностей, широкого применения, подобно АСМ, так и не получила. В то же время группа под руководством профессора Лондонского имперского колледжа, Юрия Корчева, достигла значительного успеха в решении инженерных и программных задач, значительно расширив область применимости СИПМ и улучшив ее характеристики. Это позволило начать использовать данную методику в качестве надежного инструмента для повседневных биологических и электрохимических исследований. В сотрудничестве с НТ-МДТ Спектрум Инструментс была представлена модель, совмещающая в себе СИПМ, АСМ и оптическую спектроскопию: ИНТЕГРА Марлин. Проект реализуется при содействии Фонда содействия инновациям.
В ходе вебинара, мы расскажем о широких возможностях применения сканирующей ионно-проводящей микроскопии для клеточной микробиологии и локальных электрохимических исследований.
Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) – методика для исследования оптических свойств наноструктур с разрешением выше дифракционного предела. Данный метод активно используется в нанофотонике, лазерной технике, оптических микроустройствах и материаловедении.
В ходе вебинара были освещены новые результаты, полученных при помощи различных видов СБОМ. Приведены примеры использования волоконной, апертурной и безапертурной схем включения.
Вебинар состоится во вторник, 17 марта в 11:00 по московскому времени.
Лектор: профессор Лондонского имперского колледжа, Корчев Юрий Евгеньевич
Язык вебинара: русский
