НТ-МДТ Спектрум Инструментс приглашает вас принять участие в вебинаре "Обработка и анализ изображений в сканирующей зондовой микроскопии. Критические аспекты."
Обработка и анализ данных в сканирующей зондовой микроскопии, наряду с подготовкой образца и получением данных, является одним из трех критических этапов работы с СЗМ. От корректности его проведения во многом зависят результаты всего исследования.
В рамках данного вебинара будут рассмотрены ключевые методы подготовки СЗМ изображений к этапу их анализа. Будут разобраны как типичные ошибки, так и нетривиальные примеры. Приведены примеры применения ряда методов анализа для количественной характеризации изображений.
Участие в вебинаре будет полезно для пользователей СЗМ любого уровня квалификации.
Язык вебинара: русский
Время проведения: среда, 15 мая, 11-12 утра по московскому времени.
Лектор: Леесмент Станислав Игоревич, к.т.н. Ведущий специалист по СЗМ-приложениям НТ-МДТ Спектрум Инструментс
