Группа компаний NT-MDT Spectrum Instruments выступила на конференции СЗМ-2017.
Почётный президент группы компаний проф. Виктор Быков выступил с двумя пленарными докладами докладами: "Зарождение, развитие и перспективы развития метрологической техники на базе МЭМС и НЕМС" и "Сканирующая зондовая микроскопия и спектроскопия, состояние, тенденции развития и уровень разработок в России".
Вячеслав Поляков, руководитель отдела разработок выступил с докладом "Совмещение зондовых и оптических методов для исследования свойств поверхности с нанометровым пространственным разрешением", в котором рассказал слушателям об актуальных решениях компании в области сканирующей зондовой микроскопии, а также об интеграции методов СЗМ с методами комбинационного рассеяния и инфракрасной микроскопии (SNOM / AFM-Raman / TERS and IR s-SNOM).
Благодарим всех посетителей нашего стенда за внимание и интерес к нашему оборудованию и инновационной деятельности компании. Мы рады обеспечивать научные исследования во всем мире самым современных оборудованием и уникальными методиками.
Будем рады видеть вас на предстоящих мероприятиях!
