NT-MDT Spectrum Instruments выступает генеральным партнёром Международной конференции "Сканирующая зондовая микроскопия – 2017", которая будет проходить в Екатеринбурге с 27 по 30 августа.
Будут представлены доклады президента NT-MDT SI проф. Виктора Быкова и руководителя отдела разработок NT-MDT SI к.т.н. Вячеслава Полякова.
Конференция будет посвящена широкому кругу вопросов, связанных с современным состоянием и перспективами развития различных методов Сканирующей Зондовой Микроскопии (СЗМ) в различных областях науки. Молодежная конференция будет включать приглашенные лекции ведущих специалистов и практические занятия на оборудовании УЦКП «Современные нанотехнологии» ИЕНиМ УрФУ. Будет проведен конкурс работ молодых ученых.
Конференция планируется быть первой в цикле ежегодных конференций, проводимых в разных городах России.
Тематики конференции:
1. СЗМ в материаловедении. | 2. Новые методы СЗМ. |
3. СЗМ в биологии и медицине. | 4. Аналитические методы СЗМ. |
5. Зондовая литография. | 6. In situ возможности СЗМ. |
7. Обработка данных СЗМ. 9. Ферроики. |
8. Сканирующая микроскопия пьезоотклика. 10. Науки о жизни. |
Программный комитет:
А.А. Бухараев | КФТИ КазНЦ РАН, Казань | И.В. Яминский | МГУ, Москва |
В.А. Быков | NT-MDT SI, Зеленоград | А.П. Володин | Университет Левен, Бельгия |
А.В. Латышев | ИФП СО РАН, Новосибирск | А.Л. Груверман | Университет Небраски, США |
В.Л. Миронов | ИФМ РАН, Нижний Новгород | О.В. Колосов | Университет Ланкастера, Великобритания |
Г.М. Михайлов | ИПТМ РАН, Черноголовка | А.Л. Холкин | Университет Авейру, Португалия |
А.А. Саранин | ИАПУ ДВО РАН, Владивосток | С.А. Чижик | ИТМО НАНБ, Минск, Беларусь |
В.Я. Шур | УрФУ, Екатеринбург | В.В. Шварцман | Университет Дуйсбург-Эссен, Германия |
Сопредседатели конференции: В.Я. Шур и В.Л. Миронов
Официальные языки конференции: русский и английский
Труды конференции: планируется публикация статей в международных журналах Ferroelectrics и IOP Conference Series: Materials Science and Engineering