26.04.2017 (среда) в 10-00 в Институте Физики Полупрводников имени А.В. Ржанова СО РАН состоится семинар группы компаний NT-MDT Spectrum Instrumets, посвящённый новым разработкам в области сканирующей зондовой микроскопии.
На семинаре будут представлены следующие доклады:
Почётный президент NT-MDT Spectrum Instrumets, проф. Виктор Быков: «Сканирующая зондовая микроскопия и спектроскопия - динамика развития методов».
Руководитель отдела разработок, к.т.н. Вячеслав Поляков: «Новые методы СЗМ для исследования свойств поверхности».
Ведущий разработчик Артём Шелаев: «Приборные решения для интеграции зондовых и оптических спектральных методов».
Руководитель отдела продаж в России и СНГ Евгений Лисов: «Тенденции развития микромеханических комплектующих для АСМ. Новые модели АСМ кантилеверов и образцов».
Место проведения: конференц-зал административного корпуса ИФП СО РАН (пр. ак. Лаврентьева, 13, 3 этаж).
Приглашаем всех желающих принять участие в работе семинара!
