XIX Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-2015) состоится 1-5 июня 2015 года в г.Черноголовке Московской обл.
В рамках Симпозиума планируется 3-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов".
Организаторы: Научный совет РАН по электронной микроскопии, ФГБУН Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Научная программа Симпозиума предусматривает следующие секции:
- Электронная оптика и новые приборы, обработка изображений
- Растровая электронная, растровая просвечивающая электронная, ионная микроскопия, аналитические и дифракционные методы
- Сканирующая зондовая микроскопия и зондовая нанолитография
- Применение сканирующей электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике и нанотехнологиях
- Применение сканирующей электронной и зондовой микроскопии в химии и геологии
- Применение сканирующей электронной, зондовой и конфокальной микроскопии в биологии, медицине и экологии
Регистрация участников - до 20 декабря 2014 г.
Подача тезисов докладов - до 25 февраля 2015 г.
Подробная информация о Симпозиуме http://www.iptm.ru/sem/
Ученый секретарь Научного совета РАН по электронной микроскопии, д.ф.-м.н. А.Л.Толстихина
