XXY Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ-2014) состоится 2-7 июня 2014 года в г.Черноголовка Московской области.
Конференция посвящена вопросам развития и применения методов электронной и зондовой микроскопии в физике твердого тела, материаловедении, химии, геологии, биологии, медицине, нанотехнологии и индустрии.
В рамках Конференции планируется 2-ая Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов".
Научная программа Конференции предусматривает следующие направления:
1. Просвечивающая электронная микроскопия (аналитическая, низковольтная, растровая).
2. Электронная микроскопия в исследовании новых материалов, включая наноструктуры.
3. Электронография и методы электронной дифракции.
4. Электронная оптика и новые приборы, обработка изображений.
5. Растровая электронная микроскопия.
6. Сканирующая зондовая микроскопия.
7. Электронная и ионная литография.
8. Применение методов микроскопии в физике, материаловедении, микро- и наноэлектронике.
9. Применение методов микроскопии в химии и геологии.
10. Применение электронной, зондовой и конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине.
Срок подачи тезисов докладов - не позднее 20 января 2014 года.
Подробная информация приводится на сайте конференции http://www.iptm.ru/sem/
Ученый секретарь Научного совета РАН по электронной микроскопии
к.ф.м.н. Толстихина А.Л.
