Компания Horiba Scientific, совместно с компанией Nytek Instruments, 14 мая 2009 года представляет семинар «Методы анализа тонких пленок и покрытий». Семинар будет посвящен практическим аспектам использования методов анализа тонких пленок: эллипсометрии и спектроскопии тлеющего разряда. Мы поговорим о теоретических основах данных методик, а главное, рассмотрим реальные примеры для анализа полупроводниковых пленок и многослойных структур, оптических покрытий, солнечных батарей и мониторов и многого другого (в зависимости от заявок мы подберем практические примеры). Одной из основных сложностей эллипсометрии является решение обратной задачи. Поэтому отдельная лекция будет посвящена работе с программным обеспечением для обработки данных эллипсометрии, включая практическую работу с ПО.
Место проведения: г. Москва, ул. Гостиничная д.9а корп. 3, в конференц-зале гостиницы «Восток»
Дата проведения: 14 мая 2009 года
Контакты: Эльвира Аникина, менеджер по маркетингу ЗАО «Найтек Инструментс», Тел./Факс: +7(495) 661 06 81, Моб.тел.:+7(926) 711 25 34, www.nytek.ru, www.horiba.com/Scientific
